清華大學實驗室

進口鐵電分析儀在清華

這是一款擴展性很好的模塊化鐵電壓電分析儀，具備鐵電、壓電、熱釋電材料所有基本特性測試功能，可與激光干涉儀和SPM掃描探針顯微鏡等微位移傳感器聯(lián)用，可廣泛地應用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲器等領域的研究。

TF2000具有高靈敏度、穩(wěn)定性和耐用性，能夠長時間穩(wěn)定工作，保證測試結果的準確性和可靠性。清華大學選擇TF2000，體現(xiàn)了對該儀器高品質和性能的認可，也為清華大學的科研和教學工作提供了強有力的支持。

• FE模塊-鐵電標準測試

• MR模塊-磁阻和鐵性材料測試

• RX模塊-弛豫電流測試

• DR模塊-自放電測試

• Dynamic Hysteresis 動態(tài)電滯回線測試頻率（標準FE模塊0.001Hz~5kHz）

• Static Hysterestic 靜態(tài)電滯回線測試

• PUND 脈沖測試

• Fatigue 疲勞測試

• Retention 保持力

• Imprint 印跡

• Leakage current漏電流測試

• Thermo Measurement 變溫測試功能

• C-V curve電容-電壓曲線

• Piezo Measurement壓電性能測試

• Pyroelectric Measurement熱釋電性能測試

• In-situ Compensation 原位補償

• DLCC 動態(tài)漏電流補償功能

• 電壓范圍：+/- 25 V（可選的附加高壓放大器可擴展至+/- 10KV）

• 電滯頻率：5 kHz（標準FE模塊）

• 最小脈沖寬度：2 μs

• 最小上升時間：1 μs

• 電流放大范圍：1pA～1A

• 最大負荷電容：1μF

• 輸出電流峰值：+/-1 A

高壓放大器、激光干涉儀、AFM、溫度控制器、薄膜探針冷熱臺、變溫塊體樣品盒、塊體變溫爐、薄膜e31測試平臺、超導磁體、PPMS等。

此模塊提供連續(xù)電流激勵和測試，樣品上的電壓降通過高精度四點測試。

該測試能將材料的馳豫電流和漏電流分開，并可記錄極化響應電流和去極化響應電流。

由于測試條件非常接近實際情況，因此通過這種方式可容易地測試應用于DRAM材料的合適性。

針對工業(yè)方面的應用，TF Analyzer 2000E提供了256個自動測試的通道，大大擴展了該儀器的測試功能。

以上所有的模塊可根據(jù)您的測試需求以及科研方向進行獨立選擇或者任意組合。